Aufsatz(elektronisch)Dezember 2022

An improved DenseNet model to classify the damage caused by cotton aphid

In: Computers and electronics in agriculture: COMPAG online ; an international journal, Band 203, S. 107485

Bao, Wenxia; Cheng, Tao; Zhou, Xin-Gen; Guo, Wei; Wang, Yuanyuan; Zhang, Xuan; Qiao, Hongbo; Zhang, Dongyan

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